Информируем, что 20–24 апреля 2026 г. пройдет конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов».
Язык конференции: русский.
Форматы докладов: пленарный, устный, стендовый. Заочное и дистанционное участие не предполагается.
Секции
Секция 1. Дифракция рентгеновского излучения
1.1. Монокристальная дифракция
1.2. Порошковая дифракция
Секция 2. Рентгеновская рефлектометрия и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей
Секция 3. Рентгеновская эмиссионная спектрометрия
3.1. Рентгенофлуоресцентный анализ
3.2. Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ
Секция 4. Применение синхротронного излучения. Рентгеновская спектрометрия поглощения (XANES и EXAFS)
Секция 5. Рентгенофотоэлектронная спектрометрия
Секция 6. Рентгеновская томография
E-mail Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Ученый секретарь Марьина Галина Евгеньевна
